介電常數介質(zhì)損耗測試儀生產(chǎn)廠(chǎng)家

介電常數介質(zhì)損耗測試儀主要技術(shù)特性  

Q 值測量范圍  2 ～ 1023 自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔  
固有誤差  ≤ 5 ％（10MHz～160MHz）  
工作誤差  ≤7％ （10MHz～160MHz）  
電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH  
電容直接測量范圍  1 ～ 200pF  
主電容調節范圍  18 ～ 220pF  
主電容調節準確度   ± 1 ％  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz  
頻率分段 （ 虛擬 ） 100kHz ～ 160MHz  
頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字  

介電常數介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)特性 

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測微桿分辨率：0.001mm

介電常數介質(zhì)損耗測試儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。

介電常數介質(zhì)損耗測試儀多項技術(shù)：

雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 

雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 

雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。 

自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。 

全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 
 

DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。 

計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低， Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。 
 

介電常數介質(zhì)損耗測試儀電感器：

按測試頻率要求，需要配置不同量的電感器。

例如：在1MHz測試頻率時(shí)，要配250μH電感器，在50MHz測試頻率時(shí)，要配0.1μH電感器等。

高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中，檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。

該樣品由人工藍寶石，石英玻璃，氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶(hù)可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。