薄膜工頻介電常數測試儀北京供應商
型 號GDAT-A
更新時(shí)間2023-08-07
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
報價(jià)
產(chǎn)品概述
介電常數測試儀由高頻阻抗分析儀、測試裝置，標準介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進(jìn)行 高低頻介電常數(ε)和介質(zhì)損耗角(D或tanδ) 的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及 IEC60250規范要求。 GDAT 系列介電常數測試儀工作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介 電常數(ε)和介質(zhì)損耗角 (D或tanδ)變化的測試。 GDAT系列中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品，配用高頻阻抗分析 儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗 值)變化和Cp（電容值）讀數通過(guò)公式計算得到。 1 特點(diǎn)： |
◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。
◎ 介電常數測量范圍可達1～105
2 主要技術(shù)指標：
2.1 ε和D性能：
2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。
2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。
2.2高頻阻抗分析儀和數字電橋
型號 | GDAT-S |
工作頻率范圍 | 20Hz～1MHz 數字合成，精度：±0.02% |
電容測量范圍 | 0.00001pF～9.99999F 六位數顯 |
電容測量基本誤差 | ±0.05% |
損耗因素D值范圍 | 0.00001～9.99999 六位數顯 |
高頻介質(zhì)樣品（選購件）：
在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中，檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm測試樣品。用戶(hù)可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。
|
選購件：
在現行高頻介質(zhì)材料檢定系統中，檢定部門(mén)為高頻介質(zhì)損耗測量?jì)x提供的測量標準是高頻標準介質(zhì)
樣品。該樣品由人工藍寶石，石英玻璃， 氧化鋁陶瓷，聚四氟乙烯，環(huán)氧板等材料做成Φ50mm，厚
1～2mm測試樣品。用戶(hù)可按需訂購，以保證測試裝置的重復性和準確性。
- 上一個(gè)： 橡膠薄膜耐電壓擊穿試驗儀
- 下一個(gè)： 漆膜直顯體積電阻率試驗儀*
