智能玻璃工頻介電常數測試儀

智能玻璃工頻介電常數測試儀GDAT-A

智能玻璃工頻介電常數測試儀GDAT-A技術(shù)指標 
1．Q值測量
a．Q值測量范圍：5～999。
b．Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔。
c．標稱(chēng)誤差
頻率范圍：25kHz～10MHz；
固有誤差：≤5%±滿(mǎn)度值的2%；工作誤差：≤7%±滿(mǎn)度值的2%；
頻率范圍：10MHz～50MHz；
固有誤差：≤7%±滿(mǎn)度值的2%；工作誤差：≤10%±滿(mǎn)度值的2%。
2．電感測量
a．測量范圍：0.1μH～1H。
b．分 檔：分七個(gè)量程。
0.1～1μH， 1～10μH， 10～100μH，
0.1～lmH， 1～10mH， 10～100mH， 100 mH～1H。
3．電容測量
a．測量范圍：1～460pF(460pF以上的電容測量見(jiàn)使用規則)；
b．電容量調節范圍
主調電容器：40～500pF；
準 確 度：150pF以下±1.5pF；150pF以上±1%；
微調電容量：－3pF～0～+3pF；
準 確 度：±0.2pF。
4．振蕩頻率
a．振蕩頻率范圍：25kHz～50MHz；
b．頻率分檔：
25～74kHz， 74～213kHz， 213-700kHz， 700kHz～1.95MHz，
1.95MHz～5.2MHz， 5.2MHz～17MHz， 17～50MHz。
c．頻率誤差：2×10±1個(gè)字。
5．Q合格指示預置功能，預置范圍：5～999。
6．儀器正常工作條件
a. 環(huán)境溫度：0℃～+40℃；
b．相對濕度：<80%；
c．電源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．試樣尺寸
圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時(shí)），Φ25~35mm（ε=12~30時(shí)），Φ15~20mm（ε>30時(shí)）
8．其他
a．消耗功率：約25W；
b．凈重：約7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。

GDAT-A概述
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉換，數值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。

GDAT-A產(chǎn)品優(yōu)勢：
西門(mén)子cpu中央單元處理器是目前采集精度zui高zui穩定的采集系統
（*淘汰了zui初的51單片機控制采集精度差干擾信號多 和 PLC電纜較長(cháng)，尤其是DA 模塊采用電壓信號輸出時(shí)，線(xiàn)路有較大的電壓降幅，影響了系統的穩定性和可靠性
CPU zui廣泛用于中國通訊設備服務(wù)器  如： 中國聯(lián)通、中國移動(dòng) 采用的專(zhuān)業(yè)信號處理用途上）
無(wú)線(xiàn)藍牙控制拜托距離困擾人機分離使用更加方便。
（擺脫了長(cháng)長(cháng)的數據線(xiàn)導致的信號傳播慢 命令延時(shí)的困擾 也正因為無(wú)線(xiàn)藍牙使我們的儀器擁有支持更多的電腦同時(shí)操作等特點(diǎn)）
儀器故障自動(dòng)報警系統是操作人員安全更加有保障。
（當線(xiàn)路有故障時(shí)儀器會(huì )自動(dòng)報警更大保護人員安全 此報警系統屬于故障報警和試驗放電報警、軟件報警無(wú)關(guān)）
配備網(wǎng)絡(luò )端口共享功能 讓更多人員操作試驗試驗結果存儲辦公電腦使報告更加清晰簡(jiǎn)單
（其原理就像共享一臺打印機一樣方便）

GDAT-A《BH916介質(zhì)損耗裝置》(測試夾具)是測試系統的核心檢測部件，它由一個(gè)LCD數字顯示的微測量裝置和一對經(jīng)精密加工的、間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。通過(guò)被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的Q值變化的量化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。BH916介質(zhì)損耗測試裝置是本公司研制的更新?lián)Q代產(chǎn)品，精密的加工設計、精確的LCD數字讀出、一鍵式清零功能，克服了機械刻度讀數誤差和圓筒形電容裝置不可避免的測量誤差。

GDAT-A基于串聯(lián)諧振原理的《GDAT高頻Q表》是測試系統的二次儀表，其數碼化主調電容器的創(chuàng )新設計代表了行業(yè)的zui高成就，隨之帶來(lái)了頻率、電容雙掃描GDAT的全新搜索功能。該表具有先進(jìn)的人機界面，采用LCD液晶屏顯示各測量因子：Q值、電感L、主調電容器C、測試頻率F、諧振趨勢指針等。高頻信源采用直接數字合成,測試頻率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，頻率精度高達1×10-6。國標GB/T 1409-2006規定了用Q表法來(lái)測定電工材料高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)，把被測材料作為平板電容的介質(zhì)，與輔助電感等構成串聯(lián)諧振因子引入Q表的測試回路，以獲取zui高的測試靈敏度。因而Q表法的測試結果更真實(shí)地反映了介質(zhì)在高頻工作狀態(tài)下的特征。

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