介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀

介電常數介質(zhì)損耗試驗儀滿(mǎn)足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法

介電常數介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)特性  
Q 值測量范圍  2 ～ 1023 
固有誤差  ≤ 5 ％ 
工作誤差  ≤7％ 
電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH  
電容直接測量范圍  1 ～ 200pF  
主電容調節范圍  18 ～ 220pF  
主電容調節準確度 ± 1 ％  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz  
頻率分段 （ 虛擬 ）  100 kHz ～ 160MHz  
頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字  

介電常數介質(zhì)損耗測試儀技術(shù)特性 

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測微桿分辨率：0.001mm

介電常數介質(zhì)損耗測試儀概述

BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套，可用于測量絕緣材料的介電常數和介質(zhì)損耗系數（損耗角正切值）。BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品，它采用了數顯微測量裝置，因而讀數方便，數據精確。測試裝置由一個(gè)LCD數字顯示微測量裝置和一對間距可調的平板電容器極片組成。平板電容器極片用于夾持被測材料樣品，微測量裝置則顯示被測材料樣品的厚度。BD916介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調諧指示儀器，通過(guò)被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的Q值變化，測得絕緣材料的損耗角正切值。從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。 

介電常數介質(zhì)損耗測試儀特點(diǎn)

雙掃描技術(shù)/ 雙測試要素輸入 / 雙數碼化調諧 /自動(dòng)化測量技術(shù) /全參數液晶顯示  /DDS 數字直接合成的信號源  /計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 

gdat高頻Q表的創(chuàng )新設計，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實(shí)驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具

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