介電常數介質(zhì)損耗測試儀

介電常數介質(zhì)損耗測試儀它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

c類(lèi)數顯Q表工作頻率范圍是10kHz～60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯(lián)諧振原理，以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值，電感量和分布電容量；電容器的電容量和損耗角。配以?shī)A具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗（tanδ）和介電常數（ε），高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等進(jìn)行測試。本Q表依照國家計量檢定規程：“JJF1073-2000高頻Q表校準規范”執行。

1工作特性
1.1 平板電容器：
1.1.1 極片尺寸：
 c類(lèi)-38：Φ38mm.
 c類(lèi)-50：Φ50mm. 
1.1.2 極片間距可調范圍和分辨率：
  ≥8mm， ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距：
  25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
  ≤2.5×10-4

附表二,LKI-1電感組典型測試數據

線(xiàn)圈號 測試頻率         Q值   分布電容p     電感值
  9    100KHz          98     9.4          25mH
  8    400KHz         138    11.4        4.87mH
  7    400KHz         202    16          0.99mH
  6      1MHz         196    13          252μH
  5      2MHz         198     8.7       49.8μH
  4    4.5MHz         231      7          10μH
  3     12MHz         193     6.9       2.49μH
  2     12MHz         229     6.4      0.508μH
  1     25MHz 50MHz  233211   0.9      0.125μH

1 特點(diǎn)：

◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成發(fā)生10kHz～60MHz,測試信號。
◎ 低至20nH殘余電感，保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ 數字化Q值預置，能提高批量測試的可靠性和速度。

介電常數和介質(zhì)損耗測試儀由Q表、測試裝置，電感器及標準介質(zhì)樣品組成，能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

 介電常數和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz～60MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質(zhì)損耗角（tanδ）和介電常數（ε）變化的測試。

  本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線(xiàn)性電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。同樣，由測微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數變化，通過(guò)公式計算得到介電常數。

1 特點(diǎn)：                            
◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù)，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在100kHz～160MHz介質(zhì)損耗角（tanδ）和介電常數（ε）變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的（tanδ）和（ε）的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數：Q值，測試頻率，調諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生10kHz～60MHz, 100kHz～160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口，所以本機又是         一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

2 主要技術(shù)指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～60MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：  tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）： tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

2 主要技術(shù)指標：
2.1 測試信號頻率范圍：10kHz～60MHz，數字合成，可數字設置或連續調節，五位有效數顯。
2.2 Q值測量范圍：1～1000四位數顯，分辨率0.1Q。分100、316、999三檔，量程可自動(dòng)切換。
2.3 Q值固有誤差：±5%±3% 滿(mǎn)刻度值。
2.4 有效電感測量范圍：0.1µH～1000mH。
2.5 電感測量誤差：≤5%±0.02µH
2.6 調諧電容特性：
2.6.1可調電容范圍：40pF～500 pF。
2.6.2 精確度：±1% 或0.5pF。
2.6.3微調電容器：-3pF～0～+3pF，分辨率：0.2pF
2.6.4殘余電感值：約30nH。
2.7 Q預置功能：Q預置范圍：1～1000均可。

BH916 介質(zhì)損耗測試裝置（數顯）

   BH916介質(zhì)損耗測試裝置與C類(lèi)Q表及電感器配用，能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值（tanδ）和介電常數（ε）的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
  本測試裝置是由測微平板電容器組成，平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品，配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數變化通過(guò)公式計算得到。同樣，由平板電容器的刻度讀數變化，通過(guò)公式計算得到介電常數。

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