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介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀*

型 號GDAT-C

更新時(shí)間2023-08-05

廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家

報價(jià)

產(chǎn)品描述:它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

產(chǎn)品概述

介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀*它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

 

c類(lèi)數顯Q表工作頻率范圍是10kHz~60MHz,是一種多功能、多用途、多量程數字化阻抗測試儀器。它是根據串聯(lián)諧振原理,以電壓比值刻度Q值的。它能測量高頻電感器的Q值,電感量和分布電容量;電容器的電容量和損耗角。配以?shī)A具BH916介質(zhì)損耗裝置還能對固態(tài)絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗(tanδ)和介電常數(ε),高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等進(jìn)行測試。本Q表依照國家計量檢定規程:“JJF1073-2000高頻Q表校準規范”執行。

 

1 特點(diǎn):
◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值讀取技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q。
◎ DPLL合成發(fā)生10kHz~60MHz,測試信號。
◎ 低至20nH殘余電感,保證高頻時(shí)直讀Q值的誤差較小。
◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。
◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。
◎ 數字化Q值預置,能提高批量測試的可靠性和速度。

介電常數和介質(zhì)損耗測試儀由Q表、測試裝置,電感器及標準介質(zhì)樣品組成,能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。

 介電常數和介質(zhì)損耗測試儀工作頻率范圍是10kHz~60MHz,它能完成工作頻率內材料的高頻介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

  本儀器中測試裝置是由平板電容器和測微圓筒線(xiàn)性電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放入平板電容器和不放樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數通過(guò)公式計算得到。同樣,由測微圓筒線(xiàn)性電容器的電容量讀數變化,通過(guò)公式計算得到介電常數。

1 特點(diǎn):                            
◎ 本公司創(chuàng )新的自動(dòng)Q值保持技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q,使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz~120MHz介質(zhì)損耗角(tanδ)和介電常數(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH,保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數:Q值,測試頻率,調諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動(dòng)/手動(dòng)量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生10kHz~60MHz, 100kHz~160MHz測試信號。獨立信號   源輸出口,所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。


2 主要技術(shù)指標:

2.1 tanδε性能:

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz~60MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍:

      tanδ:0.1~0.00005,ε:1~50

2.1.3 tanδ和ε測量精度(1MHz):

      tanδ:±5%±0.00005,ε:±2%

2 主要技術(shù)指標:
2.1 測試信號頻率范圍:10kHz~60MHz,數字合成,可數字設置或連續調節,五位有效數顯。
2.2 Q值測量范圍:1~1000四位數顯,分辨率0.1Q。分100、316、999三檔,量程可自動(dòng)切換。
2.3 Q值固有誤差:±5%±3% 滿(mǎn)刻度值。
2.4 有效電感測量范圍:0.1µH~1000mH。
2.5 電感測量誤差:≤5%±0.02µH
2.6 調諧電容特性:
2.6.1可調電容范圍:40pF~500 pF。
2.6.2 精確度:±1% 或0.5pF。
2.6.3微調電容器:-3pF~0~+3pF,分辨率:0.2pF
2.6.4殘余電感值:約30nH。
2.7 Q預置功能:Q預置范圍:1~1000均可。被測件達到預置值后有“GO”顯示和蜂鳴聲提示。不合格件則顯示“NO GO”。
2.8 外形尺寸及重量:415×180×170(mm),6.5kg。

BH916 介質(zhì)損耗測試裝置(數顯)

   BH916介質(zhì)損耗測試裝置與C類(lèi)Q表及電感器配用,能對絕緣材料進(jìn)行高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)的測試。它符合國標GB/T 1409-2006,GB/T 1693-2007,美標ASTM D150以及IEC60250規范要求。
  本測試裝置是由測微平板電容器組成,平板電容器一般用來(lái)夾被測樣品,配用Q表作為指示儀器。絕緣材料的損耗角正切值是通過(guò)被測樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品的Q值變化和厚度的刻度讀數變化通過(guò)公式計算得到。同樣,由平板電容器的刻度讀數變化,通過(guò)公式計算得到介電常數。

1工作特性
1.1 平板電容器:
1.1.1 極片尺寸:
 c類(lèi)-38:Φ38mm.
  c類(lèi)-50:Φ50mm. 
1.1.2 極片間距可調范圍和分辨率:
  ≥8mm, ±0.002mm
1.2 夾具插頭間距:
  25mm±1mm
1.3夾具損耗角正切值
  ≤2.5×10-4

附表二,LKI-1電感組典型測試數據

線(xiàn)圈號 測試頻率         Q值   分布電容p     電感值
  9    100KHz          98     9.4          25mH
  8    400KHz         138    11.4        4.87mH
  7    400KHz         202    16          0.99mH
  6      1MHz         196    13          252μH
  5      2MHz         198     8.7       49.8μH
  4    4.5MHz         231      7          10μH
  3     12MHz         193     6.9       2.49μH
  2     12MHz         229     6.4      0.508μH
  1     25MHz 50MHz  233211   0.9      0.125μH

 

標簽:介電常數介質(zhì)損耗測試儀 介電常數測試儀 介質(zhì)損耗測試儀  介質(zhì)損耗介電常數測試儀

 

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