介電常數介質(zhì)損耗測試儀廠(chǎng)家供應

介電常數介質(zhì)損耗試驗儀滿(mǎn)足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法、

電感：
 
線(xiàn)圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH

該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。
 
  主要技術(shù)特性  
Q 值測量范圍  2 ～ 1023 ，

量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔  
固有誤差  ≤ 5 ％ ± 滿(mǎn)度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）  
工作誤差  ≤7％ ± 滿(mǎn)度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）  
電感測量范圍  4.5nH ～ 140mH  
電容直接測量范圍  1 ～ 200pF  
主電容調節范圍  18 ～ 220pF  
主電容調節準確度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  
信號源頻率覆蓋范圍  100kHz ～ 160MHz  
頻率分段 （ 虛擬 ）100 ～ 999.999kHz，1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz，100 ～ 160MHz  
頻率指示誤差  3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字  

BD916介質(zhì)損耗測試裝置技術(shù)特性 

平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調范圍：≥15mm 
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 
4．測微桿分辨率：0.001mm

計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低， Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。 
gdat高頻Q表的創(chuàng )新設計，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實(shí)驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具
，測量值更為精確，測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調諧電容值下檢測器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。  

介電常數介質(zhì)損耗測試儀使用步驟 如下：

測試準備工作
先要詳細了解配用Q表的使用方法，操作時(shí)，要避免人體感應的影響。
a. 把配用的Q表主調諧電容置于較小電容量。
b. 把本測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個(gè)端子上。
c. 配上和測試頻率相適應的高Q值電感線(xiàn)圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1電感組能滿(mǎn)足要求），如：1MHz 時(shí)電感取250uH，15MHz時(shí)電感取1.5uH。
d. 短按ON/OFF按鍵，打開(kāi)液晶顯示屏。
e. 調節平板電容器測微桿，使平板電容器二極片相接為止，長(cháng)按SET按鍵將初始值設置為0。

4．介電常數Σ的測試

a. 再松開(kāi)二極片，把被測樣品插入二極片之間，調節平板電容器，到二極片夾住樣品止（注意調節時(shí)要用測微桿，以免夾得過(guò)緊或過(guò)松），這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數值，既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點(diǎn)上。

b. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q 表又失諧，此時(shí)調節平板電容器，使Q 表再回到諧振點(diǎn)上，讀取測試裝置液晶顯示屏上的數值記為D4

c. 計算被測樣品的介電常數：
                   Σ＝D2 / D4
5．介質(zhì)損耗系數的測試

a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個(gè)端上。把被測樣品插入二極片之間，改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表處于諧振點(diǎn)上，讀得Q 值，記為Q2。電容讀數記為C2。

b. 取出平板電容器中的樣品，這時(shí)Q 表又失諧，再改變Q 表上的主調電容容量，使Q 表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q 值，記為Q1。電容讀數記為C1。

c. 然后取下測試裝置，再改變Q 表上的主調電容容量，重新使之諧振，電容讀數記為C3，此時(shí)可計算得到測試裝置的電容為CZ = C3 －C1

d. 計算被測樣品的介質(zhì)損耗系數

?式中：CZ 為測試裝置的電容（平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2）
C0 為測試電感的分布電容（參考LKI-1 電感組的分布電容值）