介電常數測試儀*
產(chǎn)品概述
介電常數介質(zhì)損耗試驗儀滿(mǎn)足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
主要技術(shù)特性
Q 值測量范圍 2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差 ≤ 5 % ± 滿(mǎn)度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差 ≤7% ± 滿(mǎn)度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍 1 ~ 200pF
主電容調節范圍 18 ~ 220pF
主電容調節準確度 100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字
搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述
BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套,可用于測量絕緣材料的介電常數和介質(zhì)損耗系數(損耗角正切值)。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品,它采用了數顯微測量裝置,因而讀數方便,數據精確。
介電常數介質(zhì)損耗試驗儀概述
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。
該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置技術(shù)特性
平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
- 上一個(gè): bwr-a熱變形維卡軟化點(diǎn)測試儀/塑料維卡軟化點(diǎn)溫度測定儀
- 下一個(gè): gdat-a介電常數與介質(zhì)損耗測試儀