*介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀
型 號gdat-c
更新時(shí)間2023-08-05
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
報價(jià)
產(chǎn)品概述
介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀滿(mǎn)足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
一、介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀概述
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。
GDAT高頻 Q 表采用了多項技術(shù)：
| 雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 |
| 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 |
| 雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧，數碼化電容調諧。 |
| 自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。 |
| 全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 |
| DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩定。 |
| 計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低， Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。 |
一、介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷，還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì)，通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素，為提高材料的性能提供依據；儀器的基本原理是采用高頻諧振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制，測量核心采用了頻率數字鎖定，標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定，諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索，Q值量程自動(dòng)轉換，數值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調諧回路，使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低，并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測量值更為精確。儀器能在較高的測試頻率條件下，測量高頻電感或諧振回路的Q值，電感器的電感量和分布電容量，電容器的電容量和損耗角正切值，電工材料的高頻介質(zhì)損耗，高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻，傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。
主要技術(shù)特性
Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差 ≤ 5 ％ ± 滿(mǎn)度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差 ≤7％ ± 滿(mǎn)度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH
電容直接測量范圍 1 ～ 200pF
主電容調節范圍 18 ～ 220pF
主電容調節準確度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz
頻率分段 （ 虛擬 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字
- 上一個(gè)： BEST-121體積電阻率表面電阻率測試儀/電阻率測試儀
- 下一個(gè)： BDJC-50KV*抗彎強度試驗機
