介電常數測試儀/介質(zhì)損耗測試儀，介電常數介質(zhì)損耗測試儀
型 號GDAT-C
更新時(shí)間2023-08-05
廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家
報價(jià)
產(chǎn)品概述
北廣公司其它絕緣材料檢測儀器:
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介質(zhì)損耗測試儀/介電常數測試儀滿(mǎn)足標準：GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(cháng)在內）下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
一、介質(zhì)損耗測試儀/介電常數測試儀概述
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器，測試頻率上限達到目前高的160MHz。
GDAT高頻 Q 表采用了多項技術(shù)：雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。
介質(zhì)損耗測試儀/介電常數測試儀 主要技術(shù)特性
Q 值測量范圍 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差 ≤ 5 ％ ± 滿(mǎn)度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz） 工作誤差 ≤7％ ± 滿(mǎn)度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿(mǎn)度值的2％（10MHz～160MHz） 電感測量范圍 4.5nH ～ 140mH 電容直接測量范圍 1 ～ 200pF
主電容調節范圍 18 ～ 220pF 主電容調節準確度 100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％
信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz 頻率分段 （ 虛擬 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字
搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述
BD916介質(zhì)損耗測試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套，可用于測量絕緣材料的介電常數和介質(zhì)損耗系數（損耗角正切值）。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品，它采用了數顯微測量裝置，因而讀數方便，數據精確。
測試裝置由一個(gè)LCD數字顯示微測量裝置和一對間距可調的平板電容器極片組成。
BD916介質(zhì)損耗測試裝置須配用Q表作為調諧指示儀器，通過(guò)被測材料樣品放進(jìn)平板電容器和不放進(jìn)樣品時(shí)的Q值變化，測得絕緣材料的損耗角正切值。
從平板電容器平板間距的讀值變化則可換算得到絕緣材料介電常數。
介質(zhì)損耗測試儀/介電常數測試儀技術(shù)特性
平板電容器： 極片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍：≥15mm
2. 夾具插頭間距：25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 （1MHz）
4．測微桿分辨率：0.001mm
電感：
線(xiàn)圈號 測試頻率 Q值 分布電容p 電感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
- 上一個(gè)： BDJC-50KV專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)電壓擊穿試驗儀
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