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介質(zhì)損耗測試儀/介電常數介質(zhì)損耗測試儀

型 號GDAT-C

更新時(shí)間2023-08-05

廠(chǎng)商性質(zhì)生產(chǎn)廠(chǎng)家

報價(jià)

產(chǎn)品描述:介質(zhì)損耗測試儀/介電常數介質(zhì)損耗測試儀滿(mǎn)足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法

產(chǎn)品概述


介質(zhì)損耗測試儀/介電常數介質(zhì)損耗測試儀滿(mǎn)足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
一、介質(zhì)損耗測試儀/介電常數介質(zhì)損耗測試儀概述

GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。


GDAT高頻 Q 表采用了多項技術(shù):

A雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。 B雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。 C雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。 D自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。 E全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。 FDDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩定。 G計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低, Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。 
gdat高頻Q表的創(chuàng )新設計,無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實(shí)驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具
,測量值更為精確,測量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調諧電容值下檢測器件的品質(zhì),無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。 
一、概述
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;
 
 

 

 

主要技術(shù)特性  

Q 值測量范圍  2 ~ 1023 
量程分檔 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔 
固有誤差  

≤ 5 % ± 滿(mǎn)度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ) 

≤6% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz~160MHz)

工作誤差

 ≤7% ± 滿(mǎn)度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz )

 ≤8% ± 滿(mǎn)度值的2%(10MHz~160MHz) 

電感測量范圍4.5nH ~ 140mH  
電容直接測量范圍 1 ~ 200pF 
主電容調節范圍 18 ~ 220pF  
主電容調節準確度

100pF 以下 ± 1pF

100pF 以上 ± 1 %

信號源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz  
頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz

搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用

 

電感:
 
線(xiàn)圈號    測試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH

 

BD916介質(zhì)損耗測試裝置技術(shù)特性 

平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選  
極片間距可調范圍:≥15mm 
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm 
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
4.測微桿分辨率:0.001mm
 
 


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                  北京北廣精儀儀器設備有限公司    www.beiguangjy.com

 

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