雙電四探針測試儀

雙電四探針測試儀采用四探針組合雙電測量方法，液晶顯示，自動(dòng)測量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數補償.高集成電路系統、恒流輸出；選配：PC軟件進(jìn)行數據管理和處理.雙電測數字式四探針測試儀是運用直線(xiàn)或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數據進(jìn)行雙電測分析，解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響.

1. 便于查看的顯示/直觀(guān)的操作性：高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示；操作易學(xué)，直觀(guān)使用；

2. 基本設置操作簡(jiǎn)單，方阻、電阻、電阻率、電導率和分選結果；多種參數同時(shí)顯示。

3. 精度高：電阻基本準確度： 0.05％；方阻基本準確度：3%；電阻率基本準確度：3%

4. 整機測量最大相對誤差：≤±3%；整機測量標準不確定度：≤±3%

5. 四位半顯示讀數；八量程自動(dòng)或手動(dòng)測試；

6. 測量范圍寬： 電阻：10-4Ω～105Ω ；方阻：10-4Ω/□～105Ω/□；

7. 正反向電流源修正測量電阻誤差

8. 恒流源：電流量程分為： 1uA、10uA、100uA、1mA、10mA 、100mA六檔；儀器配有恒流源開(kāi)關(guān)可有效保護被測件，即先讓探針頭壓觸在被測材料上，后開(kāi)恒流源開(kāi)關(guān)，避免接觸瞬間打火。為了提高工作效率，如探針帶電壓觸單晶對材料及測量并無(wú)影響時(shí)，恒流源開(kāi)關(guān)可一直處于開(kāi)的狀態(tài)。

9. 可配合多種探頭進(jìn)行測試；也可配合多種測試臺進(jìn)行測試。

10. 校正功能：可手動(dòng)或自動(dòng)選擇測試量程 全量程自動(dòng)清零。

11. 厚度可預設，自動(dòng)修正樣品的電阻率,無(wú)需查表即可計算出電阻率。

12. 自動(dòng)進(jìn)行電流換向,并進(jìn)行正反向電流下的電阻率(或方塊電阻)測量,顯示平均值.測薄片時(shí),可自動(dòng)進(jìn)行厚度修正。

13. 雙電測測試模式，測量精度高、穩定性好.

14. 具備溫度補償功能，修正被測材料溫漂帶來(lái)的測試結果偏差。

15. 比較器判斷燈直接顯示，勿需查看屏幕，作業(yè)效率得以提高。

3檔分選功能：超上限，合格，超下限，可對被測件進(jìn)行HI/LOW判斷，可直接在LCD使用標志顯示；也可通過(guò)USB接口、RS232接口輸出更為詳細的分選結果。

16. 測試模式：可連接電腦測試、也可不連接電腦單機測試。

17. 豐富的接口，Handler接口、RS232接口、USB HOST、USB DEVICE。實(shí)現遠程控制。U盤(pán)可記錄測試數據

雙電四探針測試儀恒流源電 流量程分為1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA六檔，各檔電流連續可調數字電壓表  量程及表示形式：000.00～199.99mV分辨力：10μV；輸入阻抗：>1000MΩ；精度：±0.1% ；顯示：四位半紅色發(fā)光管數字顯示；極性、超量程自動(dòng)顯示；四探針探頭基本指標  間距：1±0.01mm；概述：本品為解決四探針?lè )y試超低阻材料方阻及電阻率，最小可以測試到1uΩ方阻值，是目前同行業(yè)中能測量到的最小值，采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測量并根據測試結果自動(dòng)轉換量程，無(wú)需人工多次和重復設置。選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動(dòng)生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chǎn)品及測試項目要求選購.運用直線(xiàn)或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數據進(jìn)行雙電測分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線(xiàn)或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區的測試。