介電常數介質(zhì)損耗儀特點(diǎn)分析
介電常數介質(zhì)損耗試驗儀滿(mǎn)足標準:GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(cháng)在內)下電容率和介質(zhì)損耗因數的推薦方法
一、介電常數介質(zhì)損耗試驗儀概述
GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前高的160MHz。
GDAT高頻 Q 表采用了多項技術(shù):
雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動(dòng)調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過(guò)數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
自動(dòng)化測量技術(shù) -對測試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高、幅度的高穩定。
計算機自動(dòng)修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至zui低,** Q 讀數值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
gdat高頻Q表的創(chuàng )新設計,無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測量提供了的解決方案,它給從事高頻電子設計的工程師、科研人員、高校實(shí)驗室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測工具,測量值更為,測量效率更高。
使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調諧電容值下檢測器件的品質(zhì),無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。
一、介電常數介質(zhì)損耗試驗儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復合材料等的一項重要的物理性質(zhì),通過(guò)測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數的各種因素,為提高材料的性能提供依據;儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測試。它以單片計算機作為儀器的控制,測量核心采用了頻率數字鎖定,標準頻率測試點(diǎn)自動(dòng)設定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉換,數值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調諧回路,使得調諧測試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測量值更為。儀器能在較高的測試頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線(xiàn)的特性阻抗等。
該儀器用于科研機關(guān)、學(xué)校、工廠(chǎng)等單位對無(wú)機非金屬新材料性能的應用研究。
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