電壓擊穿試驗儀為什么要進(jìn)行耐電壓測試：
　　
　　電壓擊穿試驗儀中電介質(zhì)強度測試亦稱(chēng)hipot測試大概是zui多人知道的和經(jīng)常執行的生產(chǎn)線(xiàn)安全測試。

實(shí)際上，表明它的重要性是每個(gè)標準的一部分。

hipot測試是確定電子絕緣材料足以抵抗瞬間高電壓的一個(gè)非破壞性的測試。

這是適用于所有設備為保證絕緣材料是足夠的的一個(gè)高壓測試。

進(jìn)行hipot測試的其它原因是它可以查出可能的瑕疵譬如在制造過(guò)程期間造成的漏電距離和電氣間隙不夠。

進(jìn)行型式測試的時(shí)候hipot測試是在某些測試（譬如失效潮態(tài)及振動(dòng)測試）之后進(jìn)行來(lái)確定是否因為這些測試造成絕緣的退化。

但是，日常生產(chǎn)進(jìn)行的hipot測試是制造過(guò)程中的測試來(lái)確定是否所生產(chǎn)的產(chǎn)品的結構是與型式測試所用產(chǎn)品的結構相同。

電壓擊穿試驗儀一些由生產(chǎn)流程造成的缺陷可以通過(guò)在線(xiàn)hipot測試檢查出來(lái)，例如變壓器繞組電氣間隙和爬電距離小。

這樣的故障可能起因于繞線(xiàn)部門(mén)的一名新操作員。

其它例子包括檢查絕緣材料的針孔瑕疵或發(fā)現一個(gè)過(guò)大的焊點(diǎn)。

大多數安全標準使用2xU+1000V的慣例作為基本的絕緣材料測試的依據這里的U是操作電壓（rms值）。

這個(gè)慣例僅僅作為一個(gè)指導對于個(gè)別標準特別是IEC60950提供了一個(gè)具體的表格來(lái)定義根據測量到的實(shí)際工作電壓來(lái)確定確切的測試電壓

　　
1.至于使用1000V作為基本慣例的原因是產(chǎn)品的絕緣材料在日常使用中可能承受瞬間過(guò)電壓。

實(shí)驗和研究表示這些過(guò)電壓通常高達1000V。

電壓擊穿試驗儀測試方法：高壓通常是應用的在橫跨被測試絕緣材料的二個(gè)部件之間譬如測試設備（EUT）的一次側電路（PrimaryCircuit）和金屬外殼。

如果絕緣材料在兩個(gè)部件之間是足夠的那么加在兩個(gè)由絕緣體分離的導體之間的大電壓只能產(chǎn)生非常小的電流流過(guò)絕緣體。

雖然這個(gè)小電流是可接受的但是空氣絕緣或固體絕緣不應該發(fā)生擊穿。

因此需要注意這個(gè)電流是因為局部放電或擊穿的結果而不是由于電容聯(lián)結引起的

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介電擊穿強度試驗儀 

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